کاهش قابلیت اطمینان در سطح دستگاه و افزایش تنوع در پروسه های within-die را می توان از مباحث بسیار مهم برای آرایه های درگاه با قابلیت برنامه ریزی-فیلد(FPGA) دانست که منجر به توسعه ی پویای خطاها در طول چرخه ی عمر مدار ادغام یافته میشود. خوشبختانه، FPGA ها توانایی پیکربندی مجدد در فیلد را در زمان اجرا دارند و از ان رو فرصت هایی را به منظور غلبه بر چنین خطاهایی فراهم می سازند. این طالعه یک بررسی جامع بر روی متد های تشخیص خطا و شِماهای تحمل پذیری در برابر خطا را برای FPGA ها و تنزل دستگاه ها و با هدف ایجاد یک مبنای قوی برای پژوهش های آینده در این حوزه ارائه میدهد. همه ی متد ها و شِماها از نظر کمی مقایسه شده اند و بعضی از آنها نیز مورد تأکید قرار گرفته اند.
واژگان کلیدی: قابلیت اطمینان، تحمل پذیری در برابر خطا، درگاه قابل برنامه ریزی فیلد
- تاریخ آزمون: دفترچه سوالات عمومی شامل سالهای 84 و 86 و 89 - دفترچه سوالات تخصصی تاریخ 1389/3/7
- مواد امتحانی:
50 سوال اختصاصی (فاقد پاسخنامه)
3 دفترچه سوال عمومی (60 سوال سال 84 / 60 سوال سال 86 / 100 سوال سال 89) - شامل دروس (ادبیات فارسی، معارف اسلامی، اطلاعات عمومی و سیاسی، ریاضی، کامپیوتر، زبان انگلیسی) (فاقد پاسخنامه)